低电压雷击浪涌测试系统

• >测试量级：

  1.2/50-8/20us组合波

  开路电压：5~660V±10%

  输出阻抗：2Ω、12Ω

• >适用标准：

  IEC 61000-4-5

  GB/T 17626.5

• >应用：

  用于模拟由于热插拔和EOS引起的浪涌冲击抗干扰测试，适用于消费电子和通讯等领域的浪涌测试需求。

• >测试量级：

  >1.2/50μs-8/20μs雷击测试系统

  输出开路：20KV±10%

  输出短路：10kA±10%

  输出虚拟内阻：2Ω

  
  

  >10/700μs-5/320μs雷击测试系统

  输出开路：10KV±10%

  输出短路：250A±10%

  输出虚拟内阻：40Ω

  
  

  >8/20μs测试系统
  

  充电电压：10KV±10%

  输出电流：20KA±10%

  输出虚拟内阻：0.5Ω

  
  

  >10/350μs直击雷测试系统
  

  充电电压：10KV±10%

  输出电流：750A±10%
  

  输出虚拟内阻：13Ω

  
  

  >10/1000μs测试系统

  充电电压：10KV±10%

  输出电流波：250A±10%

  输出虚拟内阻：40Ω

• >适用标准：

  IEC 61000-4-5
  

  GB/T 17626.5

  
  

• >应用：

  用于模拟由于雷电瞬变引起的浪涌冲击抗干扰测试，适用于通讯、电源、安防、医疗、工业、消费电子等领域的浪涌测试需求。